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由于鎢燈絲電鏡相對(duì)透射電鏡來(lái)說(shuō)真空度低、電子束流大。因此鎢燈絲電鏡的燈絲壽命仍相對(duì)較短，一般只有幾十個(gè)小時(shí)。燈絲壽命短直接帶來(lái)儀器運(yùn)行成本增加、有效運(yùn)行時(shí)間降低、污染增加，儀器性能降低等等不良后果。實(shí)際工作中應(yīng)通過(guò)采取一些措施可延長(zhǎng)燈絲使用壽命：1.準(zhǔn)確對(duì)中燈絲安裝更換新燈絲時(shí)仍需檢查燈絲的對(duì)中情況，將安裝好的燈絲組件放在解剖鏡下再檢查一下，看燈絲是否居中，否則很容易導(dǎo)致燈絲亮度偏暗，而由此操作者又會(huì)增加偏壓或電流來(lái)提高亮度，損傷燈絲。2.適當(dāng)增加燈絲高度燈絲工作時(shí)發(fā)射電子束...

實(shí)際使用中，傅立葉變換拉曼可以很好地用于常規(guī)分析中，但在日常測(cè)量中也存在很多限制：只能使用1064nm近紅外激光，帶來(lái)的缺點(diǎn)是：低靈敏度、不適合測(cè)量水溶液、不適合測(cè)量深色樣品。光學(xué)設(shè)計(jì)限制了能夠達(dá)到的空間分辨率（這也是多數(shù)傅立葉變換拉曼光譜儀制造商不使用傅立葉變換拉曼顯微鏡的原因。色散型拉曼系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)在于在同一臺(tái)儀器上既可以進(jìn)行常規(guī)的分析，又具有進(jìn)行科學(xué)研究的能力，包括:多個(gè)激光波長(zhǎng)：可以根據(jù)多種樣品的具體情況以及散射性質(zhì)選擇優(yōu)化方案，從而實(shí)現(xiàn)增強(qiáng)靈敏度、控制穿透深度、抑制熒...

鎢燈絲掃描電鏡作為微觀形貌觀察的有力工具，正越來(lái)越迅速、廣泛地應(yīng)用于冶金、礦物、化工、醫(yī)藥、生物、食品、納米材料等領(lǐng)域。作為常規(guī)的大型精密分析儀器，鎢燈絲掃描電鏡的燈絲壽命仍相對(duì)較短，燈絲壽命短直接帶來(lái)掃描電鏡運(yùn)行成本增加、有效運(yùn)行時(shí)間降低、污染增加，掃描電鏡性能降低等等不良后果。在實(shí)際工作中，使用者可以通過(guò)以下措施來(lái)延長(zhǎng)燈絲使用壽命。①新燈絲的表面可能吸附一定量的空氣、水汽，當(dāng)它被安裝到電鏡鏡筒里時(shí)，會(huì)從燈絲表面緩緩釋放，影響鏡筒的真空度，腐蝕燈絲。因此，新燈絲在更換前要先...

掃描電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱掃描電鏡)是一種大型精密儀器，主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)，是機(jī)械學(xué)、光學(xué)、電子學(xué)、熱學(xué)、材料學(xué)、真空技術(shù)等多門(mén)學(xué)科的綜合應(yīng)用。掃描電鏡是一種新型的電子光學(xué)儀器，主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。掃描...

高光譜遙感圖像和常見(jiàn)的二維圖像不同之處在于，它在二維圖像信息的基礎(chǔ)上添加光譜維，進(jìn)而形成三維的坐標(biāo)空間。如果把成像光譜圖像的每個(gè)波段數(shù)據(jù)都看成是一個(gè)層面，將成像光譜數(shù)據(jù)整體表達(dá)到該坐標(biāo)空間，就會(huì)形成一個(gè)擁有多個(gè)層面、按波段順序疊合構(gòu)成的三維數(shù)據(jù)立方體。高光譜遙感具有不同于傳統(tǒng)遙感的新特點(diǎn)：（1）波段多——可以為每個(gè)像元提供幾十、數(shù)百甚至上千個(gè)波段（2）光譜范圍窄——波段范圍一般小于10nm（3）波段連續(xù)——有些傳感器可以再350~2500nm的太陽(yáng)光譜范圍內(nèi)提供幾乎連續(xù)的地物...

X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類(lèi)型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的X射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過(guò)測(cè)定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)。X射線同無(wú)線電波、可見(jiàn)光、紫外線等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，...

掃描電鏡主要由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探測(cè)處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)七大系統(tǒng)組成而成。利用掃描電鏡分析樣品時(shí)，首先要排除外界的干擾去除假象，盡量減少這些不利因素的影響，使分析結(jié)果更準(zhǔn)確。制樣時(shí)產(chǎn)生的影響因素分析：1.樣品制備樣品的制備是能否得到重要信息的關(guān)鍵，若使用不正確的制樣程序，不僅會(huì)得不到清晰的圖像，而且有可能得到假象，即觀察到的圖像并不是真正的樣品內(nèi)部狀態(tài)或主要成分，所以試樣制備方法的選擇對(duì)于熱加工、熱處理等工藝問(wèn)題或后續(xù)加...